Atomic scale dielectric constant near the SiO2/Si(001) interface

Natori AKIKO

doi:10.1116/1.2937734

戻る

Atomic scale dielectric constant near the SiO2/Si(001) interface

ジャーナル論文 - rm_published_papers: Scientific Journal

査読済み

Atomic scale dielectric constant near the SiO2/Si(001) interface

Natori AKIKO

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, Vol.26(4), ページ1579-1584

07/2008

DOI: https://doi.org/10.1116/1.2937734

ファイルとリンク (2)

url

https://doi.org/10.1116/1.2937734表示

is_downloadable: False

url

https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000258494400055&DestApp=WOS_CPL表示

is_downloadable: False

メトリック

1 レコードビュー

詳細

タイトル: Atomic scale dielectric constant near the SiO2/Si(001) interface
作成者 – 役職なし: Natori AKIKO
出版物に関する詳細: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, Vol.26(4), ページ1579-1584
ID: 991002548777307421
組織: The University of Electro-Communications
言語: 英語
資料タイプ: ジャーナル論文
リソースのサブタイプ: rm_published_papers: Scientific Journal