メトリック
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- タイトル
- New method for characterizing the injected-carrier-to-photon conversion efficiencies inside the ultrafast all-optical semiconductor gates
- 作成者 – 役職なし
- Yoshiyasu UENO
- 出版物に関する詳細
- Optical Amplifiers and their Applications (OAA 2006), Vol.paper no. OTuC4
- ID
- 991002548694607421
- 組織
- The University of Electro-Communications
- 言語
- 英語
- 資料タイプ
- ジャーナル論文
- リソースのサブタイプ
- rm_published_papers: International Conference Proceedings