専門

Shinji Yokogawa is currently associate professor of The Info-Powered Energy System Research Center (iPERC) at The University of Electro-Communications, Tokyo, Japan. He received the B.S.(1992), M.S.(1994), and Ph.D.(2008) in engineering from The University of Electro- Communications. In 1994, he joined NEC Corp. (later to become NEC Electronics Corp. and Renesas Electronics Corp.), Japan as an engineer and has since been working in the area of reliability. He focused on electromigration, stress-induced voiding, low-k ILD TDDB, and MOL CA-to-PC TDDB issues for 130, 90, 65, 55, 45, 40, 32 and 28 nm technology developments. From 2008 until 2013, he managed the reliability development team in NEC Electronics Corp. mainly focusing on the development of standard CMOS process and embedded DRAM technology. From 2013 to 2016, he worked at Polytechnic University administered by the ministry of health, labour and welfare, Kodaira, Japan. From April in 2016, he has been working at The University of Electro-Communications. His research interests include device reliability (Lithium-ion battery, power device, etc.), quality control, and reliability theory. He has (co)authored over 60 technical papers and serves as a technical committee member and reviewer for leading conferences and journals.
Current Affiliation:
- Professor, Info-Powered Energy System Research Center, The University of Electro-Communications | 電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 教授
Degree:
- 修士（工学）, 電気通信大学
- Master in Engineering, The University of Electro-Communications
- 博士（工学）, 電気通信大学
- Ph.D. in Engineering, The University of Electro-Communications
Previous Affiliation:
- 2021-05~Present: Director, Info-Powered Energy System Research Center, The University of Electro-Communications | 電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, センター長
- 2019-04~Present: Professor, Info-Powered Energy System Research Center, The University of Electro-Communications | 電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 教授
- 2016-04-01~2019-03-31: 准教授, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 電気通信大学
- 2013-04-01~2016-03-31: Associate professor, 生産管理系, Polytechnic University of Japan | 職業能力開発総合大学校, 生産管理系, 准教授
- 2010-04-01~2013-03-31: 課長, デバイス・解析技術統括部デバイスソリューション開発部信頼性技術課, Renesas Electronics Corporation | ルネサスエレクトロニクス株式会社, デバイス・解析技術統括部デバイスソリューション開発部信頼性技術課, 課長
- 2002-11-01~2010-03-31: NEC Electronics Corporation | NECエレクトロニクス株式会社
- 1994-04-01~2002-10-30: NEC Corporation | 日本電気株式会社
Research Area:
- Manufacturing technology (mechanical, electrical/electronic, chemical engineering) / Electronic devices and equipment | ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 電子デバイス、電子機器
- Social infrastructure (civil Engineering, architecture, disaster prevention) / Safety engineering | 社会基盤（土木・建築・防災） / 安全工学
- Social infrastructure (civil Engineering, architecture, disaster prevention) / Social systems engineering | 社会基盤（土木・建築・防災） / 社会システム工学

リンク

表彰

Best Poster Award (Effects of defect clustering on the shape of TDDB lifetime distribution and screening effectiveness)
ADMETA Committee, 2024-10
木村賞 (感染症予防難易度の高い社会福祉施設の空気質管理)
横断型基幹科学技術研究団体連合, 2024-05
高木賞 (機能共鳴分析法を用いた自動車リコール情報の可視化に基づく創発的不具合の構造解析)
日本信頼性学会, 2022-05
第30回秋期シンポジウム優秀賞 | 第30回秋期シンポジウム優秀賞 (テキストマイニングと機能共鳴分析法を用いた自動車リコール情報の分析)
日本信頼性学会, 2018-06
2016春期シンポジウム優秀賞 | 2016春期シンポジウム優秀賞 (リチウムイオン二次電池の劣化における充放電サイクル数と待機時間の影響)
日本信頼性学会, 2017-05
2014春期シンポジウム優秀賞 (原子輸送モデルと応用分布による突出し配線におけるストレス誘起ボイドのレイアウト依存性解析)
日本信頼性学会, 2015
IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2013 (Lifetime Distribution Analysis of Stress-induced Voiding Based on Void Nucleation and Growth in Cu/low-κ Interconnects) | IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2013
IEEE Reliability Society Japan Chapter, 2014
日経品質管理文献賞 (新版 信頼性ハンドブック（日科技連出版社）)
, 2014
Advanced Metallization Conference (ADMETA) Technical Award 2011
, 2012
2009秋期シンポジウム優秀賞 | 2009秋期シンポジウム優秀賞 (HfSiOxによる仕事関数制御MOSトランジスタにおけるランダム・テレグラフ・ノイズ)
日本信頼性学会, 2011
Advanced Metallization Conference (ADMETA) Award 2010 (Role of Impurity Segregation to Cu/Cap Interface and Grain Boundary on Resistivity and Electromigration in Cu/low-k interconnects) | Advanced Metallization Conference (ADMETA) Award 2010
, 2011
IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2007
IEEE Reliability Society Japan Chapter, 2008
第16回電子デバイスの信頼性シンポジウム技術賞 | 第16回電子デバイスの信頼性シンポジウム技術賞 (インバーターチェーン回路を用いたSoft Breakdown 起因のIDD劣化評価)
財団法人日本電子部品信頼性センター, 2007
第15回電子デバイスの信頼性シンポジウム優秀論文賞 | 第15回電子デバイスの信頼性シンポジウム優秀論文賞 (低い累積故障確率におけるエレクトロマイグレーション寿命とボイド形成)
財団法人日本電子部品信頼性センター, 2006
高木賞 (サドンデスTEGとOBIRCHを用いたダマシンCu配線のエレクトロマイグレーション評価)
日本信頼性学会, 2004
第10回電子デバイスの信頼性シンポジウム優秀論文賞 (多層ダマシンCu配線のエレクトロマイグレーションに関する一考察)
財団法人日本電子部品信頼性センター, 2001
日本設備管理学会論文賞 | 日本設備管理学会論文賞 (劣化量データを用いた設備の最適保全方策とパラメータ推定)
日本設備管理学会, 1996

提携機関

0120100_情報学専攻, 0120000_大学院情報理工学研究科, The University of Electro-Communications

0110100_Ⅰ類（情報系）, 0110000_情報理工学域, The University of Electro-Communications

0130600_i-パワードエネルギー・システム研究センター, 0130000_研究センター, The University of Electro-Communications

教育

電子情報学専攻, 電気通信学研究科
01/04/1992–31/03/1994, The University of Electro-Communications | 電気通信大学 (JPN)
電子情報学科, 電気通信学部
01/04/1988–23/03/1992, The University of Electro-Communications | 電気通信大学
普通科
01/04/1985–23/03/1988, 愛媛県立新居浜西高等学校